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什么是偏振X射線熒光光譜儀？
X 射線偏振現象是在 1906 年由 R.Barkla 首先發現 , 1973 年 Yoyn...
什么是全反射X射線熒光光譜儀技術？
全反射現象由 Compton 于 1923 年發現 ，1971 年 Yoneda 等首次提出利用...
光譜儀的分析作用和功能？
光譜儀的作用按大方面是分析物質，分析物質元素含量，通過物質分類，可以建立物質間的從屬關系，分析物...
詳解EDXRF熒光光譜儀器探測器
EDXRF 熒光光譜儀的探測器 大部分是 半導體探測器 ， 高能量分辨率、寬線性范圍、快響應時間、...
EDXRF熒光光譜儀器光源和應用范圍有關
EDXRF 能量色散熒光光譜儀 器 與 WDXRF 波長色散熒光光譜儀器相比， EDXRF 省卻了分光...
WDXRF波長色散熒光光譜儀器的組成結構
WDXRF 波長色散熒光光譜儀器一般由光源、分光系統 （分光晶體、測角儀、準直器） 、檢測系統 （...
展望X射線光譜儀的原理和發展
X 射線光譜儀是進行組分和結構分析的有力工具 ， 簡述了 X 射線光譜儀的基本原理并對其進行了分類 ， 重...
XRF熒光光譜儀器的進展及發展趨勢
XRF 熒光光譜儀 器 是一種 無損的， 應用廣泛的 光譜分析 儀器， 臺式 XRF 熒光光譜儀...
直讀光譜儀器基本參數特性？
在購買直讀光譜儀的過程中，技術參數是很重要的內容，可以看出這款直讀光譜儀可以分析哪些元素，達到一個怎樣的精...
